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北京知识产权运营公司申请半导体器件及其形成方法专利避免源极和漏极之间subchannel漏电现象

作者:小编 发布时间:2025-11-29 11:42:37点击:

  国家知识产权局信息显示,北京知识产权运营管理有限公司申请一项名为“半导体器件及其形成方法”的专利,公开号CN121038339A,申请日期为2024年5月。专利摘要显示,本申请提供一种半导体器件及其形成方法,所述半导体器件包括:半导体基底,所述半导体基底包括半导体衬底、位于所述半导体衬底表面且沿第一方向延伸的有源材料层、沿第二方向延伸的栅极结构,所述有源材料层的一部分垂直贯穿所述栅极结构,所述第二方向垂直所述第一方向;第三外延层,嵌入所述栅极结构两侧的所述有源材料层中;第二外延层,位于所述第三外延层下的所述有源材料层中,并与所述第三外延层的位置对应;隔离材料层,位于所述第二外延层的侧壁;第一外延层,位于所述第二外延层的底部,并与所述隔离材料层共同围合所述第二外延层侧壁和底部。所述半导体器件及其形成方法避免了源极和漏极之间形成的sub channel的漏电现象。

  天眼查资料显示,北京知识产权运营管理有限公司,成立于2014年,位于北京市,是一家以从事科技推广和应用服务业为主的企业。企业注册资本15067万人民币。通过天眼查大数据分析,北京知识产权运营管理有限公司共对外投资了12家企业,参与招投标项目31次,财产线条,此外企业还拥有行政许可2个。

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